Banca de DEFESA: JOAQUIM BRASIL DE LIMA FILHO

Uma banca de DEFESA de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE: JOAQUIM BRASIL DE LIMA FILHO
DATA: 25/09/2014
HORA: 08:30
LOCAL: Auditório do Departamento de Física
TÍTULO:

APLICAÇÃO DA TÉCNICA DE CARACTERIZAÇÃO ÓPTICA POR ELIPSOMETRIA AO ESTUDO DAS PROPRIEDADES DE SUBSTRATOS TRANSPARENTES, METÁLICOS E POLIMÉRICOS

PALAVRAS-CHAVES:

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PÁGINAS: 70
GRANDE ÁREA: Ciências Exatas e da Terra
ÁREA: Física
SUBÁREA: Física da Matéria Condensada
RESUMO:

No presente trabalho,  estudou-se a obtenção de polianilina (PAni) por meio de uma
rota enquadrada como  síntese química.  A partir  do pó da PAni  e do  solvente N-metil-2-
pirrolidona (NMP) foram geradas soluções de diferentes concentrações, as quais foram base
para a confecção de filmes finos depositados pelo método  casting  em substratos de vidro,
quartzo e de ouro.  Desenvolveu-se,  com sucesso,  um método controlado de confecção de
filme que permitisse estimar,  com certa margem de segurança, sua espessura. O estudo das
propriedades ópticas dos filmes finos de PAni, bem como dos substratos em questão, se deu
por  meio   da   técnica   de   elipsometria.  A  técnica  mostrou-se   robusta   na   descrição   das
propriedades  de  todos os sistemas analisados.  A medida elipsométrica sobre o  filme mais
espesso,  por exemplo,  gerou um padrão de  interferência por meio do qual  elaborou-se um
método   original   de   estimativa,   com  grande   precisão,   de   espessura   de   filme   em  casos semelhantes. O ajuste teórico segundo o modelo de Sellmeier para as medidas elipsométricas nos substratos de materiais transparentes mostrou-se bastante eficaz. Uma boa caracterização das propriedades do ouro foi  obtida mediante o uso do modelo de Drude em adição a três osciladores de Lorentz correspondentes as  transições intrabandas.  Propõe-se neste estudo a aplicação do modelo de Tauc-Lorentz para os ajustes teóricos sobre as medidas elipsométricas em  filmes  de  PAni.  Observou-se,   a  partir  da   análise  das  medidas   elipsométricas,  que  os parâmetros   do  modelo   de   Tauc-Lorentz   usados   para   ajustes   teóricos   assumem  valores diferentes   para   diferentes   espessuras   dos   filmes   de   PAni   e   também  para   os   diferentes substratos de deposição dos filmes.

MEMBROS DA BANCA:
Presidente - 1534112 - ANGEL ALBERTO HIDALGO
Interno - 2056226 - CLEÂNIO DA LUZ LIMA
Interno - 1548848 - EDUARDO COSTA GIRAO