Banca de DEFESA: FRANKLYN ERIKSON DA SILVA GUIMARÃES

Uma banca de DEFESA de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE: FRANKLYN ERIKSON DA SILVA GUIMARÃES
DATA: 06/07/2018
HORA: 10:00
LOCAL: PPGCM
TÍTULO: DEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE TICN E TIC EM AÇO INOXIDÁVEL SUPERDUPLEX UNS S32750 POR SPUTTERING EM GAIOLA CATÓDICA
PALAVRAS-CHAVES: Filmes finos, sputtering, gaiola catódica, TiCN, TiC, UNS S32750
PÁGINAS: 70
GRANDE ÁREA: Engenharias
ÁREA: Engenharia de Materiais e Metalúrgica
SUBÁREA: Metalurgia de Transformação
ESPECIALIDADE: Tratamentos Térmicos, Mecânicos e Químicos
RESUMO:

Filmes finos de TiCN e TiC foram depositados sobre aço inoxidável superduplex UNC S32750 com objetivo de realizar um estudo da aplicação da técnica de deposição utilizando gaiola catódica (sputtering em gaiola catódica) e analisar o potencial de melhoria que a deposição desses filmes apresentou em relação a amostra. As amostras foram caracterizadas por Ensaio de Microdureza Vickers, Microscopia Eletrônica de varredura – MEV, Espectroscopia por Energia Dispersiva – EDS, Espectroscopia Raman e espessura de camada. Foi verificado um aumento significativo na microdureza da amostra SD2-500, em uma atmosfera contendo 75% H₂+ 25% N₂. Foi verificado através do MEV que houve uma excelente deposição do filme fino sobre e substrato. A análise de Espectroscopia por Energia Dispersiva mostrou a presenças de (Ti, C, N) para a condição I e II e (Ti, C) para a condição III. Na Espectroscopia Raman foi verificado as presenças de TiN, TiCN e TiC. Ao analisar a espessura de camada foi verificado uma fina camada de TiCN e TiC, comprovando a formação de um filme fino.

MEMBROS DA BANCA:
Presidente - 1570906 - BARTOLOMEU CRUZ VIANA NETO
Interno - 6276167 - ROMULO RIBEIRO MAGALHÃES DE SOUSA
Externo ao Programa - 1568901 - HEURISON DE SOUSA E SILVA
Externo à Instituição - JOSE FRANCISCO DOS REIS SOBRINHO - IFPI